掃描電子顯微鏡（掃描電子顯微鏡、掃描電鏡/SEM）的基本組成部分是傳輸系統(tǒng)、電子槍系統(tǒng)、電子采集系統(tǒng)、觀察記錄系統(tǒng)以及相關的電子系統(tǒng)。那么，掃描電子顯微鏡的優(yōu)點是什么呢？接下來，小編給大家介紹一下掃描電子顯微鏡的優(yōu)點有哪些。

掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌掃描電子顯微鏡觀察方法。它可以直接利用樣品表面材料的材料特性進行顯微成像。

掃描電子顯微鏡的優(yōu)點是：

①放大倍數(shù)較高，20萬～20萬倍連續(xù)可調；

②具有大景深、大視野、立體影像，可直接觀察各種樣品的凹凸不平表面，精細結構；

③樣品制備簡單。

目前的掃描電子顯微鏡配備了X射線能譜儀裝置，既可以觀察微觀結構，又可以分析微觀區(qū)域的成分。因此，它是當今非常有用的科研儀器。

秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設計目標，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲臺式掃描電鏡ZEM15。ZEM15掃描速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實時的顯示樣品。只需鼠標就可完成所有操作，不需對中光闌等復雜步驟，聚焦消像散后可直接拍圖。主機集成高壓及控制系統(tǒng)，體積小巧，便于移動，可出差攜帶，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電就可工作。