影響SEM掃描電鏡成像的幾大要素介紹
日期:2023-10-08 09:25:15 瀏覽次數(shù):68
1、分辨率
影響掃描電鏡的分辨本領(lǐng)的主要因素有:A. 入射電子束束斑直徑;B. 入射電子束在樣品中的擴展效應(yīng);C. 成像方式及所用的調(diào)制信號。
2、放大倍數(shù)
Sem掃描電鏡的放大倍數(shù)可表示為M =Ac/As式中,Ac—熒光屏上圖像的邊長;As—電子束在樣品上的掃描振幅。一般地,Ac 是固定的(通常為100 mm),則可通過改變As 來改變放大倍數(shù)。目前,大多數(shù)商品掃描電鏡放大倍數(shù)為20~20,000倍,介于光學(xué)顯微鏡和透射電鏡之間,即SEM掃描電鏡彌補了光學(xué)顯微鏡和透射電鏡放大倍數(shù)的空擋。
3、景深
掃描電子顯微鏡的景深比透射電子顯微鏡大10倍,比光學(xué)顯微鏡大幾百倍。由于圖像景深大,所得掃描電子像富有立體感。
4、襯度。襯度包括:表面形貌襯度和原子序數(shù)襯度。表面形貌襯度由試樣表面的不平整性引起。
聯(lián)系我們
全國服務(wù)熱線
4001-123-022
公司:微儀光電臺式掃描電子顯微鏡銷售部
地址:天津市東麗區(qū)華明**產(chǎn)業(yè)區(qū)華興路15號A座
相關(guān)資訊推薦
- SEM掃描電鏡在水泥材料行業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
- SEM掃描電鏡的幾個成像技巧分享
- SEM掃描電鏡:解鎖生物醫(yī)學(xué)研究的微觀密碼
- SEM掃描電鏡能在哪些環(huán)境中工作:原理、優(yōu)勢與挑戰(zhàn)深度解析
- SEM掃描電鏡樣品制備全攻略:10大關(guān)鍵注意事項助力**成像
- SEM掃描電鏡能觀察哪些樣品?全面解析其應(yīng)用領(lǐng)域與優(yōu)勢
- SEM掃描電鏡:半導(dǎo)體全鏈條質(zhì)量管控的“納米之眼”
- SEM掃描電鏡中的荷電效應(yīng)及消除辦法全解析
- 樣品導(dǎo)電性對SEM掃描電鏡成像的影響指南
- SEM掃描電鏡拍攝難題全攻略:從圖像模糊到樣品損傷的實戰(zhàn)解決方案